當(dāng)前位置:深圳市中圖儀器股份有限公司>>產(chǎn)品展示>>半導(dǎo)體專業(yè)檢測設(shè)備
您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)! 登錄| 免費注冊| 產(chǎn)品展廳| 收藏商鋪|
當(dāng)前位置:深圳市中圖儀器股份有限公司>>產(chǎn)品展示>>半導(dǎo)體專業(yè)檢測設(shè)備
當(dāng)前位置:深圳市中圖儀器股份有限公司>>產(chǎn)品展示>>半導(dǎo)體專業(yè)檢測設(shè)備
半導(dǎo)體晶圓厚度量測系統(tǒng) 參考價: ¥3000000
無圖晶圓粗糙度測量系統(tǒng) 參考價: ¥3000000
半導(dǎo)體晶圓表面幾何形貌檢測系統(tǒng) 參考價: ¥3000000
晶圓厚度Wafer參數(shù)量測設(shè)備 參考價: ¥3000000
晶圓表面形貌量測設(shè)備 參考價: ¥3000000
半導(dǎo)體晶圓形貌檢測機(jī) 參考價: ¥3000000
晶圓wafer厚度測量設(shè)備 參考價: ¥3000000
半導(dǎo)體晶圓幾何形貌量測設(shè)備 參考價: ¥3000000
半導(dǎo)體晶圓大翹曲wafer測量設(shè)備 參考價: ¥3000000
晶圓Wafer厚度測量系統(tǒng) 參考價: ¥3000000
晶圓微觀形貌測量系統(tǒng) 參考價: ¥3000000
半導(dǎo)體晶圓粗糙度表面形貌測量設(shè)備 參考價: 面議
無圖晶圓膜厚檢測設(shè)備 參考價: ¥3000000
無圖晶圓表面形貌粗糙度2D3D檢測機(jī) 參考價: 面議
晶圓表面厚度翹曲度測量系統(tǒng) 參考價: 面議
晶圓表面形貌參數(shù)測量儀 參考價: 面議
亞納米分辨率晶圓幾何量測系統(tǒng) 參考價: 面議
芯片半導(dǎo)體晶圓非接觸式光學(xué)3D表面輪廓儀 參考價: ¥960000
無圖晶圓粗糙度測量設(shè)備 參考價: 面議
晶圓制程檢測設(shè)備幾何量測系統(tǒng) 參考價: 面議
晶圓厚度測量系統(tǒng) 參考價: 面議
晶圓形貌測量設(shè)備 參考價: 面議
半導(dǎo)體量檢測設(shè)備 參考價: 面議
無圖晶圓幾何形貌測量設(shè)備 參考價: 面議
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業(yè)自行提供,信息內(nèi)容的真實性、準(zhǔn)確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負(fù)責(zé),化工儀器網(wǎng)對此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。
溫馨提示:為規(guī)避購買風(fēng)險,建議您在購買產(chǎn)品前務(wù)必確認(rèn)供應(yīng)商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量。